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        3分鐘帶你詳細了解顯微分光膜厚儀的10大特色功能

        更新時間:2021-04-26點擊次數:993

            顯微分光膜厚儀廣泛應用于各種薄膜、涂層光學常數(nandk)和厚度的精確測量,設備分為在線和離線兩種工作模式,操作便捷,幾秒鐘內即可完成測量和數據分析,USB連接計算機控制;薄膜表面或界面的反射光會與從基底的反射光相干涉,干涉的發生與膜厚及折光系數等有關,因此可通過計算得到薄膜的厚度。光干涉法是一種無損、精確且快速的光學薄膜厚度測量技術,我們的薄膜測量系統采用光干涉原理測量薄膜厚度。

            顯微分光膜厚儀特色功能:

            •使用顯微光譜法在微小區域內通過絕.對反射率進行測量,可進行高精度膜厚度/光學常數分析。

            •可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度,例如各種膜、晶片、光學材料和多層膜。測量時間上,能達到1秒/點的高速測量,并且搭載了即使是初次使用的用戶,也可容易出分析光學常數的軟件。

            •頭部集成了薄膜厚度測量所需功能

            •通過顯微光譜法測量高精度絕.對反射率(多層膜厚度,光學常數)

            •1點1秒高速測量

            •顯微分光下廣范圍的光學系統(紫外至近紅外)

            •區域傳感器的安全機制

            •易于分析向導,初學者也能夠進行光學常數分析

            •獨立測量頭對應各種inline客制化需求

            •支持各種自定義

            測量項目:

            •絕.對反射率測量

            •多層膜解析

            •光學常數分析(n:折射率,k:消光系數)

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