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        當前位置：首頁產品中心光譜系統顯微熒光系統S-MPL系列顯微熒光成像系統
        
        
        
    
        

        




        
	
        
    	
        
        	
                        
                
        
                    
                    
        
                    
                    
        
                
        
                
        
                    
        
                        
                                  
                            
							
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        顯微熒光成像系統
        
            
        
            	產品簡介
                
        S-MPL系列顯微熒光成像系統
        光致發光（photoluminescence）即PL，是用紫外、 可見或紅外輻射激發發光材料而產生的發光，在半 導體材料的發光特性測量應用中通常是用激光（波 長如325nm、532nm、785nm等）激發材料（如 GaN、ZnO、GaAs等）產生熒光，通過對其熒光光譜（即PL譜）的測量，分析該材料的光學特性，如禁帶寬 度等。
        
            
        
            
        
            	
        
                	
        產品型號：S-MPL系列
        
                    
        更新時間：2025-04-23
        
                    
        廠商性質：生產廠家
        
                    
        訪問量：1640
        
                    
        
                
        
            
        
            
        
        
        
        
    
        
    
    
        
    	
        
        
        
        
        	
        
            	
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        S-MPL系列顯微熒光成像系統簡介
        • 光致發光(photoluminescence)即PL，是用紫外、 可見或紅外輻射激發發光材料而產生的發光，在半 導體材料的發光特性測量應用中通常是用激光（波 長如325nm、532nm、785nm等）激發材料（如 GaN、ZnO、GaAs等）產生熒光，通過對其熒光光譜（即PL譜）的測量，分析該材料的光學特性，如禁帶寬 度等。光致發光可以提供有關材料的結構、成分及環境 原子排列的信息，是一種非破壞性的、高靈敏度的分析 方法，因而在物理學、材料科學、化學及分子生物學等 相關領域被廣泛應用。
        • 傳統的熒光光譜儀一般采用透鏡收光的方式，針對發光 非常微弱的納米材料，即便用激光器激發，也很難獲得 較好的信號。結合多年的實際測樣經驗，我司推出了顯 微PL系統，采用顯微物鏡收光，較傳統的熒光光譜儀其 收光效率提升了至少3個數量級，因此特別適用于傳統 熒光系統難以檢測到的微弱信號，另外其輔助的白光成 像功能，還可以實現微區（微米級）定位測量。
        應用領域：
        • 半導體材料
        • 二維材料
        • 納米材料
        • 薄膜材料
        • 光波導器件
        • LD, LED外延片
        產品特點：
        • 光譜范圍：200-1700nm
        • 光斑大小：≤10μm（325nm激光、100X物鏡）
        • 光譜分辨率：優于0.1nm
        • 白光成像分辨率：亞微米級
        • 激光器：266nm、325nm、360nm、405nm、488n- m、510nm、532nm、633nm、785nm等可選
        • 樣品臺：手動/電動可選
        • 采譜模式：單點掃描/線掃描可選
         S-MPL系列顯微熒光成像系統系統功能：
        • 微區PL測量
        • 可同時配置多路激光器
        • 自由光路耦合，保障大光效率
        • 顯微光路設計，保障大激發、收集效率
        • 高精度位移臺，實現微米級定位測量
        擴展功能：
        • 微區電致發光（EL）測量
        • 熒光壽命測量：ps-ms量級
        • 自動Mapping功能：50mm×50mm行程，步進精度 1μm
        • 光電流譜（成像）測量
        • 光電材料響應度測試
        • 變溫附件：77K-600℃/4K、10K超低溫
        S-MPL系列顯微熒光系統 
         
         
         
        
                
        
            
        
            
        
            
            
            
        

            
        
                
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                請輸入計算結果（填寫阿拉伯數字），如：三加四=7
            
          
		
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