嵌入式膜厚檢測儀

產品簡介
● 采用分光干涉法

● 搭載高精度FFT膜厚解析系統（專zhuan利第4834847號）

● 使用光學光纖，可靈活構筑測量系統

● 可嵌入至各種制造設備。

● 實時測量膜厚

● 可對應遠程操作、多點測量

● 采用壽命長、安全性高的白色LED光源

產品型號：

更新時間：2025-05-07

廠商性質：生產廠家

訪問量：459

產品咨詢 18117546256

產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

光譜系統

顯微缺陷膜厚半導體晶圓缺陷檢測儀高光譜測試系統瞬態吸收系統太陽能電池量子效率太陽光模擬器IV系統顯微光電流成像系統探測器光響應度系統光譜變溫附件探針臺拉曼SERS增強試劑顯微熒光系統組合熒光系統鏡頭透過率測試系統漫反射率測試系統反射、吸收率系統成像亮度計標準燈參考輻射定標電致發光系統常規發射光譜系統共聚焦拉曼光譜儀

顯微熒光光譜儀在科學研究和工業應用中發揮著重要作用

詳細介紹在線留言

產品信息

測量項目

多層膜厚解析

用　途

光學薄膜（超硬涂層、AR薄膜、ITO等）

FPD相關（光刻膠、SOI、SiO2等）

設備構成

單點型

嵌入式膜厚檢測儀

半導體晶圓的面內分布測量

玻璃基板的面內分布測量

多點型

嵌入式膜厚檢測儀

實時測量

流向品質管理

真空室適用

導線型

嵌入式膜厚檢測儀

實時測量

寬度方向品質管理

測量案例

超硬涂層的膜厚解析

嵌入式膜厚檢測儀

上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統。經過多年的發展，上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業內具有較高的知zhi名度和美譽度，客戶遍布全國。我們將繼續努力，不斷提升市場地位和影響力。

上一個：小角激光散射儀 PP-1000