紫外分光配光測量系統

產品簡介
●通過分光光度分布對紫外光進行高精度測量

●從配光上評估紫外光的最大發光強度、光束開度、光束光通量

●涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍

●支持從 LED 芯片到模塊和應用產品的廣泛樣品

●用軟件批量控制電源和測量儀器

產品型號：

更新時間：2025-05-07

廠商性質：生產廠家

訪問量：473

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產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

光譜系統

顯微缺陷膜厚半導體晶圓缺陷檢測儀高光譜測試系統瞬態吸收系統太陽能電池量子效率太陽光模擬器IV系統顯微光電流成像系統探測器光響應度系統光譜變溫附件探針臺拉曼SERS增強試劑顯微熒光系統組合熒光系統鏡頭透過率測試系統漫反射率測試系統反射、吸收率系統成像亮度計標準燈參考輻射定標電致發光系統常規發射光譜系統共聚焦拉曼光譜儀

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產品信息

評價項目

紫外線輻射強度或輻照度中的光分布角分布

最大光度、光束開度、光束光通量

輻射通量、輻射強度、輻照度

總光通量

光譜數據

根據配光測量系統的測量項目

總光通量、色度坐標xy、uv、u’v’相關色溫、Duv、主波長、刺激純度顯

色指數Ra、R1至R15

峰值波長、半值范圍

規格

紫外分光配光測量系統

* 1：測量期間安裝樣品的方向。
底座朝下：水平面安裝
底座側：垂直面安裝
*2：配光測量的測量波長范圍為250～850nm
*3：可選產品請參考總光通量測量系統規格頁.

設備配置

GP-510U

紫外分光配光測量系統

桌面型設備。將 LED 芯片放置在水平面上并進行測量。
受光部一側為1軸，樣品側為1軸的驅動系統。
由于樣品可以放置在平坦的表面上，因此測量再現性和位置調整很容易。
適用于測量LED芯片等不易安裝的小樣品。

GP-500 / GP-1100

紫外分光配光測量系統

桌面型設備。這是一般配光裝置的光學系統。
受光部分與樣品部分高度相同，樣品側采用2軸驅動系統。
它可以處理從芯片類型到小模塊樣品的廣泛產品。

GP-2000

紫外分光配光測量系統

大型設備。安裝需要一個使用一個暗室的地方。
該設備用于測量大而重的光源，如泛光燈。

測量示例

UV-LED 測量結果

紫外分光配光測量系統

這是用光譜光分布測量 UV-LED 的結果。
根據輻射強度繪制配光曲線。
通過對光分布測量得到的每個θ處的光譜輻射強度
使用球面系數法，可以得到UV-LED發射的總光譜通量。

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GP-510U

GP-500 / GP-1100

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