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      • 產(chǎn)品中心

        PRODUCTS CNTER

        當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)顯微缺陷膜厚量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

        量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

        產(chǎn)品簡介

        測量精度高

        可瞬間測量絕對量子效率(絕對量子收率)

        可去除再激勵熒光發(fā)光 采用了積分半球unit,實現(xiàn)了明亮的光學(xué)系統(tǒng)

        產(chǎn)品型號:
        更新時間:2025-04-23
        廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
        訪問量:969
        詳細(xì)介紹在線留言

        產(chǎn)品信息

        特長

        堅持高精度測量

        ●可即時測量絕對量子效率(絕對量子產(chǎn)率)

        ●可去除再激發(fā)熒光發(fā)射

        ●采用積分半球單元,實現(xiàn)明亮的光學(xué)系統(tǒng)。

        ●低雜散光多通道光譜檢測器大大減少了紫外區(qū)的雜散光

         

        堅持簡單的操作

        ●使用專用軟件輕松操作

        ●易于安裝/拆卸樣品測量池

        ●節(jié)省空間且緊湊的設(shè)計

        ●可以使用分光型激發(fā)光源選擇任意波長。

        ●通過在軟件上指zhi定激發(fā)波長的波長和步長值,可以進(jìn)行自動測量。

         

        堅持多功能

        ●與粉末、溶液、固體(薄膜)和薄膜樣品兼容

        ●豐富的分析功能

        ●量子效率(量子產(chǎn)率)測量

        ●激發(fā)波長相關(guān)性測量

        ●發(fā)射光譜測量

        ●PL激發(fā)光譜測量

        ●EEM(激發(fā)發(fā)射矩陣)測量

         

        用法

        LED 和有機(jī) EL 熒光粉的量子效率(量子產(chǎn)率)測量薄膜狀

        樣品的透射熒光/反射熒光的量子效率(量子產(chǎn)率)測量-遠(yuǎn)程熒光粉等的熒光樣品

        量子點、熒光探針、生物場、包合物等的熒光測量。

        染料敏化太陽能電池的量子效率(量子產(chǎn)率)測量

        復(fù)雜化合物的測量

         

        高精度的原因

        1. 具有積分半球的理想光學(xué)系統(tǒng)

        QE-2000 配備有積分半球。與積分球(全局)相比,積分球具有以下特點。

        由于非發(fā)光部分(支架等)可以暴露在外面,所以可以保持很小的自吸收,并且可以實現(xiàn)理想的光學(xué)系統(tǒng)。

        反射鏡使同一點的照度增加一倍,從而實現(xiàn)高靈敏度測量。

        樣品測量池可以輕松安裝和拆卸,并且?guī)缀鯖]有損壞積分球內(nèi)部的風(fēng)險。
        量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

        2.通過再激發(fā)熒光校正功能觀察&ldquo;真實物性值&rdquo;

        在包括再激發(fā)熒光發(fā)射的狀態(tài)下,觀察包括器件的特性,而不是對材料本身物性的觀察,無法得到真實的物性值。QE-2000 可以通過利用積分半球的再激發(fā)熒光校正進(jìn)行簡單而準(zhǔn)確的測量。
        量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

        量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

         

        3.低雜散光多通道光譜檢測器減少紫外區(qū)雜散光

        使用傳統(tǒng)檢測器(多色儀)時,紫外區(qū)域的雜散光以高水平檢測,因此不適合測量量子效率(量子產(chǎn)率)。大冢電子通過開發(fā)消除雜散光的技術(shù)解決了這個問題。安裝在 QE-2000 上的多通道分光檢測器的雜散光強(qiáng)度約為我們傳統(tǒng)產(chǎn)品的 1/5,即使在紫外線區(qū)域也能實現(xiàn)高精度測量。

        量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

        原理

        量子效率(量子產(chǎn)率)測量概念

        參考和樣品激發(fā)光、熒光光譜測量示例

        量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

        規(guī)格

        量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

        選項

        自動進(jìn)樣器

        樣品架 (
        1) 用于粉末測量 SUS304 材質(zhì),帶石英蓋 (
        2) 用于薄膜測量 用于透射測量的樣品架
        量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

        軟件

        直觀且易于使用的專用軟件。只需設(shè)置樣品測量池,即可輕松測量量子效率(量子產(chǎn)率)、激發(fā)光譜等。

        量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

        測量示例

        粉末樣品的測量

        BAM 多重激勵的測量示例

        當(dāng)激發(fā)波長發(fā)生變化時,量子效率(量子產(chǎn)率)發(fā)生變化。下圖顯示了 BAM(粉末)的量子效率(量子產(chǎn)率)和反射率的激發(fā)波長依賴性。(BAM = BaMgAl10O17: Eu) ● 藍(lán)色(左刻度):再激發(fā)校正后的內(nèi)量子效率(內(nèi)量子產(chǎn)率) ■ 紅色(右刻度):每個激發(fā)波長的反射率 從該圖中,在 BAM 的情況下可以可見,隨著激發(fā)光接近可見光區(qū),吸收率降低,即反射率增加。

        量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

         

        溶液樣品的測量

        熒光素激發(fā)光譜的測定

        激發(fā)光譜是指示熒光強(qiáng)度在哪個激發(fā)波長下最zui大化的光譜。右圖顯示了熒光素(藍(lán)色)的激發(fā)光譜和激發(fā)波長(493 nm)處熒光強(qiáng)度最大的熒光光譜(綠色)。

        量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

        量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

         

        熒光素內(nèi)部量子效率的測量(內(nèi)部量子產(chǎn)率)

        右圖為熒光素溶液在493 nm激發(fā)波長下的熒光光譜(包括激發(fā)光)。內(nèi)量子效率(內(nèi)量子產(chǎn)率)為0.903(濃度6.43&times;10-6 mol/L),相當(dāng)于文獻(xiàn)值0.921)。1) G. Weber 和 FWJ Teale,Trans Faraday Soc 53, 646 (1957)

        量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

         

        測量量子點的內(nèi)量子效率(內(nèi)量子產(chǎn)率)

        量子點作為可以通過改變其組成和內(nèi)部結(jié)構(gòu)來調(diào)整其光學(xué)特性的材料而備受關(guān)注。量子點的激發(fā)光譜和激發(fā)波長為370 nm的熒光光譜如下圖所示。

        量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

        QE-2100

        測量單元、檢測單元、光源單元為獨立類型
        除標(biāo)準(zhǔn)功能外,還可根據(jù)應(yīng)用進(jìn)行擴(kuò)展。

        量子效率測光系統(tǒng)(分體式)QE-2100
        量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

         

        特殊長度

        溫度控制功能(50-300&deg;C)可實現(xiàn)量子效率(量子產(chǎn)率)的溫度相關(guān)測量

        通過根據(jù)應(yīng)用構(gòu)建光學(xué)系統(tǒng),可以支持各種樣品。

        該探測器還可用于總光通量測量和光分布測量

        檢測器可以改變到另一個波長范圍

        兼容紫外至近紅外寬帶(300 至 1600 nm)規(guī)格


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