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        當前位置:首頁產品中心半導體材料測試半導體多功能測試WT-2000半導體多功能測試

        WT-2000半導體多功能測試

        產品簡介

        WT-2000提供349nm,904nm,1064nm,1550nm等不同激發光,適合Si,SiC,GaAs,CdZnTe,InGaAs等各種材料電學參數測試。

        產品型號:
        更新時間:2025-05-07
        廠商性質:生產廠家
        訪問量:493
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        · Measurement Options.
        · μ-PCD 技術做少子壽命掃描測試
        · 表面光電壓(SPV)做擴散長度面掃描測試
        · 光誘導電流(LBIC)測試材料缺陷分布
        · 測試特定金屬雜質和沾污:Fe
        · 渦流法測試電阻率
        · 4探針測試電阻率

        WT-2000半導體多功能測試





        上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統。經過多年的發展,上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業內具有較高的知zhi名度和美譽度,客戶遍布全國。我們將繼續努力,不斷提升市場地位和影響力。

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