產品簡介

光譜型橢偏儀是多功能薄模測試系統，適合各種薄材料的研究。

Different tools:

• SE-2xxx-全自動測試平臺

• SE-1100-適于測試柔性村底材料

• IRSE-紅外光譜型橢偏儀

• EP-橢偏測孔隙率

• SE-1000-低成本手動測試平臺

• LE-103PV-激光型橢偏儀

Application:

Photonics:

• LED, AIGaN, GaN, InP, GaAs

• Reflective Coatings, ARC, ll-V devices(EEL, VCSEL, ECL)

• MEMS

• Sol-Gel.

Photovaltage

• Thin films and silicon solar cell, Nanostructure Cells

• Transparent conductive oxide, Nano dots, Nanowires, CNT

Organics:

• OLED.OPV.Sensors. OTFT

Semiconductors:

• High-k, Gate Oxide , Nitride oxide , Low-k

• Interconnects . Lithography thin films

• Epi-layers :SOl,SiGe ,Strained Si. SiC, Poly

Flat Panel Displays:

• TFT-LCD.LTPS.IGZO,OLED, electrochromic layers

General：

• Ferroelectric materials(BST.SBT.PZT

• Fuel Cells .SOFC ,Porous electrode

• Graphene

• 3D materials , periodic structures

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上海波銘科學儀器有限公司成立于 2013 年，是一家專注于光學電學領域的創新型公司。我們致力于通過技術和服務為客戶提供優質的產品和服務，滿足不斷變化的市場需求。

上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統。經過多年的發展，上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業內具有較高的知zhi名度和美譽度，客戶遍布全國。我們將繼續努力，不斷提升市場地位和影響力。