原子力顯微鏡

產(chǎn)品簡介
原子力顯微鏡使用非常小的探針，掃描樣品表面，在原子尺度探測樣品形貌。Semilab的AFM設(shè)備，可靈活配置和測試，具備優(yōu)異測試穩(wěn)定性和可靠性。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-04-23

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

半導(dǎo)體材料測試

體微缺陷測試霍爾電阻遷移率光伏光致發(fā)光深能級瞬態(tài)譜測試橢偏拉曼AFM 半導(dǎo)體多功能測試 CV測試系統(tǒng)集成測試儀器租賃

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Capability:

Surface topography 表面形貌

Electrical properties 電學性質(zhì)

Chemical properties 化學性質(zhì)

Magnetically properties 磁學性質(zhì)

原子力顯微鏡

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