CV-1500非接觸CV測試系統

產品簡介
CV-1500，用于測試界面和介電層的科研平臺，基于SDI Corona-Kelvin技術，可以進行非接觸C-V/I-V測試。

產品型號：

更新時間：2025-04-23

廠商性質：生產廠家

訪問量：567

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產品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

半導體材料測試

體微缺陷測試霍爾電阻遷移率光伏光致發光深能級瞬態譜測試橢偏拉曼AFM 半導體多功能測試 CV測試系統集成測試儀器租賃

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Capability:

Semiconductor Surface Barrier-V_s_b 表面勢壘
Oxide Total Charge -Q_tot 氧化物總電荷
Interface Trapped Charge-Q_it 界面電荷
Interface Trap Density-D_it 界面態密度
Di Spectrum:D_it vs. V_s_b
Dielectric Capacitance -C_D and thickness -CET 介電層電容和電學總厚度
Dielectric Leakage 介電層漏電

CV-1500非接觸CV測試系統

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